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SN74ABT8952DWR| IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

SN74ABT8952DWR

描述 :   IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

品牌 :   Texas Instruments

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库存: AVAIL

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属性

Logic Type Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Mounting Type Surface Mount
Number of Bits 8
Operating Temperature -40°C ~ 85°C
Package / Case 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Supplier Device Package 28-SOIC
Supply Voltage 4.5 V ~ 5.5 V
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