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SN74LVTH182646APM| IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74LVTH182646APM
描述 : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
品牌 : Texas Instruments
PDF : PDF
库存: AVAIL
在线报价一
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属性
| Logic Type | ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers |
|---|---|
| Mounting Type | Surface Mount |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Package / Case | 64-LQFP |
| Supplier Device Package | 64-LQFP (10x10) |
| Supply Voltage | 2.7 V ~ 3.6 V |
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电子元件制造商
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品牌 : Texas Instruments
型号 : MSP430F149IPMR-KAM
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品牌 : STMicroelectronics
型号 : STM32F103C8T6TR
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品牌 : Texas Instruments
型号 : TMS320F2812PGFAG4
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品牌 : Atmel
型号 : ATMEGA328P-AU
