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SN74LVTH18504APMG4| IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74LVTH18504APMG4
描述 : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
品牌 : Texas Instruments
PDF : PDF
库存: AVAIL
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属性
| Logic Type | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
|---|---|
| Mounting Type | Surface Mount |
| Number of Bits | 20 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Package / Case | 64-LQFP |
| Supplier Device Package | 64-LQFP (10x10) |
| Supply Voltage | 2.7 V ~ 3.6 V |
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