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SN74BCT8374ANT| IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
SN74BCT8374ANT
描述 : IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
品牌 : Texas Instruments
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库存: AVAIL
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属性
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
|---|---|
| Mounting Type | Through Hole |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Package / Case | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Supplier Device Package | 24-PDIP |
| Supply Voltage | 4.5 V ~ 5.5 V |
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电子元件制造商
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品牌 : Texas Instruments
型号 : MSP430F149IPMR-KAM
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品牌 : STMicroelectronics
型号 : STM32F103C8T6TR
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品牌 : Texas Instruments
型号 : TMS320F2812PGFAG4
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品牌 : Atmel
型号 : ATMEGA328P-AU
