SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT| IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

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描述 : IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

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库存: AVAIL

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Logic Type	Scan Test Device with D-Type Latches
Mounting Type	Through Hole
Number of Bits	8
Operating Temperature	0°C ~ 70°C
Package / Case	24-DIP (0.300", 7.62mm)
Supplier Device Package	24-PDIP
Supply Voltage	4.5 V ~ 5.5 V

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