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SN74ABT18245ADL| IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
SN74ABT18245ADL
描述 : IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
品牌 : Texas Instruments
PDF : PDF
库存: AVAIL
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属性
| Logic Type | Scan Test Device with Bus Transceivers |
|---|---|
| Mounting Type | Surface Mount |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Package / Case | 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| Supplier Device Package | 56-SSOP |
| Supply Voltage | 4.5 V ~ 5.5 V |
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电子元件制造商
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品牌 : Texas Instruments
型号 : MSP430F149IPMR-KAM
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品牌 : STMicroelectronics
型号 : STM32F103C8T6TR
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品牌 : Texas Instruments
型号 : TMS320F2812PGFAG4
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品牌 : Atmel
型号 : ATMEGA328P-AU
