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SN74LVTH18502APM| IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

SN74LVTH18502APM

描述 :   IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

品牌 :   Texas Instruments

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库存: AVAIL

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属性

Logic Type ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Mounting Type Surface Mount
Number of Bits 18
Operating Temperature -40°C ~ 85°C
Package / Case 64-LQFP
Supplier Device Package 64-LQFP (10x10)
Supply Voltage 2.7 V ~ 3.6 V
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电子元件制造商

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