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SN74ABT18652PM| IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SN74ABT18652PM
描述 : IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
品牌 : Texas Instruments
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库存: AVAIL
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属性
| Logic Type | Scan Test Device With Transceivers And Registers |
|---|---|
| Mounting Type | Surface Mount |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Package / Case | 64-LQFP |
| Supplier Device Package | 64-LQFP (10x10) |
| Supply Voltage | 4.5 V ~ 5.5 V |
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