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SN74ABT18640DL| IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
SN74ABT18640DL
描述 : IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
品牌 : Texas Instruments
PDF : PDF
库存: AVAIL
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属性
| Logic Type | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers |
|---|---|
| Mounting Type | Surface Mount |
| Number of Bits | 18 |
| Operating Temperature | -40°C ~ 85°C |
| Package / Case | 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| Supplier Device Package | 56-SSOP |
| Supply Voltage | 4.5 V ~ 5.5 V |
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电子元件制造商
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品牌 : Texas Instruments
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